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| X-ray膜厚儀經(jīng)過20多年的努力, 現(xiàn)在的熒光X-射線鍍層厚度測量儀能夠準確的測量微小面積的鍍層厚度。 已被全世界電子零部件、印制電路板、汽車零部件、各種電鍍產(chǎn)品生產(chǎn)及相關廠商廣泛使用和認可。 X-ray膜厚儀綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度. 統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì). X-ray膜厚儀的應用領域： 1、分析電子部品電鍍層的厚度 2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析 3、各鍍層的成分比例分析。 | ||||||||||||||||||||||||||
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